名称:泰克Tektronix 370B 晶体管测试仪
主要参数:
半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源(370A/B)
-上限到3000V(371A)
-上限到220W(370A/B)
-上限到400A(371A)
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W(371A)
-上限到2mV的测量分辨率(370A/B)
-波形对比
-包络显示
-波形平均
-点光标(370A)
-Kelvin传感测量
-全程控
-MS-DOS兼容的软盘,方便设置参孝存储和调用
交互式程
-所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式,调整和存储操作参数,包括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
-测试夹具是标准附件,它提供被测器件安全防护,以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001,中间通过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
程控特性曲线图示仪
-著名的高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
-在研发实验室,用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作。
应用
-手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
-来料检查
-生产测试
-过程监视及质量控制
-数据报告的生成
-元件配对
-失效分析
-工程测试
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